低能电子衍射仪（LEED）荧光屏磁屏蔽罩
低能电子衍射仪（LEED）荧光屏磁屏蔽罩是专为低能电子衍射仪荧光成像屏、电子衍射接收区域、微区电子束扫描空间定制的高精度专用磁屏蔽组件，采用多层梯度MuMETAL高导磁合金经真空氢气退火精密成型，完整包覆LEED荧光屏成像面与低能电子飞行衍射区域。
LEED依靠低能电子束与样品表面晶格相互作用产生衍射光斑，实现材料表面晶格结构、原子排列、表面重构、缺陷结构的超高分辨表征，低能电子束飞行轨迹极弱，对地磁场漂移、实验室工频杂散磁、真空设备电磁漏磁、周边精密仪器电磁串扰极其敏感，极易引发电子束偏移、衍射光斑畸变、光斑位移、成像对比度下降、杂斑增多、晶格解析精度劣化等问题，直接影响表面结构分析准确性。
本产品依托闭环磁分流屏蔽原理，构建超低梯度、近零磁本底的纯净电子衍射成像环境，稳定低能电子束飞行轨迹与荧光成像基准，从根源消除磁源性成像误差，是保障LEED超高精度表面晶格分析的核心精密屏蔽配件，广泛应用于表面物理、薄膜材料、半导体基底、催化界面、真空精密科研表征场景。
